附錄　E

(規(guī)范性附錄)

時基線和靈敏度設定

E．1　概述

使用脈沖波技術，應在示波屏上設置超聲時基線。一束透射聲束的聲程距離、深度、水平距離、或者扣除前沿的水平距離的坐標，見圖E．1。除非另有注明，下述所提及設定時基線工藝是指聲束傳播的聲程距離(一個回波等于兩次的傳播路徑)。

時基線的設定應使用兩個已知時間或距離的參考回波進行。根據(jù)預定的校準值，能得知各自的聲程，深度，水平距離，或者扣除前沿的水平距離。該技術能夠確保通過延時塊(如探頭楔塊)的聲束傳播自動校準。假設參考試塊聲速可知，在該情況下設備的電子時基線通過一個回波就可以校準。在時基線范圍內(nèi)的兩參考回波之間距離可等同于實際距離。運用時基線掃描控制旋鈕將最高回波的波的前沿對應于屏幕上預定的水平刻度值。準確的校準可用一個檢查信號來驗證，檢查信號不一定與之前校準設置的信號顯示在示波屏的同一位置，但能顯示在示波屏適當?shù)奈恢谩?/span>

E．2　參考試塊和參考反射體

對于鐵素體鋼的檢測建議使用GB／T 19799．1中規(guī)定的l號校準試塊或GB／T 19799．2中規(guī)定的2號校準試塊。只要已知參考試塊或被檢工件本身的探測面至反射體的聲程距離就可以用其來校準時基線。參考試塊與被檢工件的聲速誤差應在±5％之內(nèi)，否則應進行修正。

E．3　直探頭調(diào)節(jié)技術

E．3．1單反射體調(diào)節(jié)

參考試塊的厚度不得超過時基線設定范圍?？蓮?span style=";padding: 0px">1號校準試塊厚度為25mm或100mm處得到合適的底面回波，或從2號校準試塊的12.5mm處得到。也可選擇已知厚度的被檢工件，試塊與工件應有相同的平表面或曲面，且試塊與工件的聲速應相同。

E．3．2多反射體調(diào)節(jié)

要求參考試塊(或組合試塊)應有不同聲程的兩個反射體(如橫孔)，重復地不斷移動探頭位置找到每個反射體各自的最高回波；再通過調(diào)節(jié)時基線掃描控制旋鈕將相鄰兩個反射體的回波設置到準確的位置來進行時基線校準。

E．4　斜探頭調(diào)節(jié)技術

E．4．1試塊圓弧面調(diào)節(jié)

用1號校準試塊或2號校準試塊的圓弧面來設定時基線。

E．4．2縱波探頭調(diào)節(jié)轉(zhuǎn)換

橫波探頭時基線可通過縱波探頭在1號校準試塊的91mm厚度處設置，相對于住鋼中50mm的橫波聲程。完成時基線設定之后，通過檢測時所用的探頭和已知聲程距離的反射體，僅用零點校準旋鈕就可以來進行時基線的設置。

E．4．3參考試塊調(diào)節(jié)

這與E．3．2中針對直探頭的調(diào)節(jié)原理相似。

然而要達到足夠精確，就必須找到最高回波，在試塊表面標出聲束入射點，然后用手工方法測量反射體與相應的標記之間的距離。對所有后面的時基線校準，探頭應在這些標記重新定位。

E．5　斜探頭時基線的設置

E．5．1平面

平面工件檢測時，深度和水平距離主要取決于給定的聲束角度，可參照比例圖或以下公式：

深度(t)：t=s·cosat

水平即離(a)：a=s·sinat

扣除前沿的水平距離(a￠)：a￠=(s·sinat)-x

E．5．2曲面

E5．1中闡述的時基線設置的原理在這里仍適用，但深度和水平距離不再是線性的。非線性標度比例的建立，可在聲程距離比例圖上通過一系列的位置來繪出，或由適當的公式計算出，或可從曲面試塊上得到一系列反射體的最高回波來確定標度，中間值可通過插值法獲得。見圖E．2。

E．6　靈敏度設定和回波高度評定

E．6．1概述

在校準完時基線之后，超聲設備的靈敏度(增益調(diào)節(jié))應按以下任一技術進行設定：

a)單反射體技術

當評定的回波與參考反射體回波的聲程距離相同，即可利用單個參考反射體作參考。

b)距離波幅曲線(DAC)技術

DAC曲線是通過得到參考試塊上一系列不同聲程的相同反射體(例如：橫孔或平底孔)回波來繪制的。

c)DGS技術

該技術是使用一系列理論上與聲程、增益、與聲束軸線垂直的平底孔尺寸相關的導出曲線。

E．6．2角度影響

當利用斜探頭二次波(例如：在半跨距之后)探測曲面工件時，由底面引起的入射角度的變化(例如角度影響)應予以考慮。當探頭在外圓面對筒體型工件進行掃查時，由于內(nèi)表面是曲面，經(jīng)內(nèi)表面反射之后將使聲束角度變大。反之，當探頭在內(nèi)圓面進行掃查時，由于外表面是曲面的原因，經(jīng)外表面反射之后將使聲束角度變小。

E．6．3距離波幅曲線(DAC)技術

制作DAC曲線所使用的參考試塊，應具有一系列不同聲程距離的反射體，且試塊上反射體的深度應大于被檢工件的高度。表E．1詳細給出間距、試塊最小尺寸和反射體的具體要求。

對不同回波波高的評價，按以下要求執(zhí)行：

如果回波波高通過增加XdB到達參考線時，回波波高記錄為(參考水平－X)dB。如果回波波高通過降低YdB到達參考線時，回波波高記錄為(參考水平+Y)dB。